포인트엔지니어링은 해당 과제에서 포인트엔지니어링의 신규사업으로 진행 중인 Vertical MEMS Pin 개발을 담당하며, 동시에 동 Probe Card의 Head 및 Guide Plate 전체 개발을 주관하게 된다.
Probe Card는 반도체 칩의 양불량을 검사하는 필수 검사 부품으로 최근 빠르게 고집적화 되고 있는 반도체 소자와 맞게끔 점차 미세화되고 있다. 이에 3나노 이하 공정에 사용 가능한 Probe Card의 개발이 목적이다.
박승호 포인트엔지니어링 연구소장은 “포인트엔지니어링의 MEMS Pin 기술이 인정받아, 동 과제를 수행하게 되었다”며, “Probe Card의 핵심인 관련 Vertical Pin의 개발뿐 아니라 주관 수행을 위해 관련 업체들과 협력할 예정”이라고 밝혔다.